产品概述 Flash芯片测试自动分拣设备利用可循环测试托板上下料方式，通过自动扫码、三轴直线电机模组，搭载4位真空取料机械手臂，实现Flash芯片批量自动上料或自动下料分选等级。芯片测试数据的追溯，通过Flash芯片测试自动分拣设备与测试板老化柜进行网线连接，老化柜测试机和测试板的识别码扫描绑定实现。

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