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型号 FT-N200
容量 1-200颗
尺寸 L185cm*W87.5cm*H183cm
工作温度 -40℃~+85℃
产品概述 可同时测试1~200颗芯片,宽温测试、可同时测25种不同颗粒
支持测试命令类型 基础测试
支持测试范围可选 起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
已支持闪存协议类型 ONFI/toggle接口颗粒
已支持测试封装规格 BGA152、BGA132(可定制扩展)
已支持测试闪存品牌 Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk等厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒
支持pattern 全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
Operating temperature range 宽温测试、可同时测25种不同颗粒
产品详情

科研版.jpg产品介绍1.jpg产品介绍2.jpg产品介绍3.jpg产品介绍4.jpg案例分析1.jpg案例分析2.jpg精准应用.jpg